TOREX LABEL Search Results
TOREX LABEL Result Highlights (5)
| Part | ECAD Model | Manufacturer | Description | Download | Buy |
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| 83808-20100 |
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Shield (Type II) closed end, with label recess | |||
| 83818-20100 |
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Shield (Type II) 5mm. open back end, with label recess | |||
| 83808-22110S |
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Shield (Type II ) 2xI/O, with shield insulator and label recess | |||
| 83808-21110 |
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Shield (Type II) 1xI/O, with shield insulator and label recess | |||
| 83808-20110S |
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Shield (Type II) closed end, with shield insulator and label recess |
TOREX LABEL Datasheets Context Search
| Catalog Datasheet | Type | Document Tags | |
|---|---|---|---|
USP-10Contextual Info: 管理計画 USP-10 CONTROL PLAN (USP-10) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
USP-10) USP-10 | |
QFN-24Contextual Info: 管理計画 QFN-24 CONTROL PLAN (QFN-24) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 代表例 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
QFN-24) QFN-24 | |
SOT-25Contextual Info: 管理計画 SOT-25 CONTROL PLAN (SOT-25) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
OT-25) SOT-25 | |
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Contextual Info: 管理計画 SSOT-25 CONTROL PLAN (SSOT-25) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
SSOT-25) | |
SOP-8FDContextual Info: 管理計画 SOP-8FD CONTROL PLAN (SOP-8FD) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
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SOD-523Contextual Info: 管理計画 SOD-523 CONTROL PLAN (SOD-523) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
OD-523) SOD-523 | |
USP-12B01Contextual Info: 管理計画 USP-12B01 CONTROL PLAN (USP-12B01) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
USP-12B01) USP-12B01 | |
USPN-4Contextual Info: 管理計画 USPN-4 CONTROL PLAN (USPN-4) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
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SSOT-24Contextual Info: 管理計画 SSOT-24 CONTROL PLAN (SSOT-24) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
SSOT-24) SSOT-24 | |
USP-6BContextual Info: 管理計画 USP-6B CONTROL PLAN (USP-6B) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 代表例 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
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LGA-4B01Contextual Info: 管理計画 LGA-4B01 CONTROL PLAN (LGA-4B01) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
LGA-4B01) LGA-4B01 | |
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Contextual Info: 管理計画 USPQ-4B13 CONTROL PLAN (USPQ-4B03) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
USPQ-4B13) USPQ-4B03) | |
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Contextual Info: 管理計画 TO-92(T CONTROL PLAN (TO-92(T) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
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USPN-6Contextual Info: 管理計画 USPN-6 CONTROL PLAN (USPN-6) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
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Contextual Info: 管理計画 CL-2025 CONTROL PLAN (CL-2025) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
CL-2025) | |
SOD-123AContextual Info: 管理計画 SOD-123A CONTROL PLAN (SOD-123A) ﾄﾚｯｸｽｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
OD-123A) SOD-123A | |
SOT-223Contextual Info: 管理計画 SOT-223 CONTROL PLAN (SOT-223) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
OT-223) SOT-223 | |
MSOP-10Contextual Info: 管理計画 MSOP-10 CONTROL PLAN (MSOP-10) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
MSOP-10) MSOP-10 | |
SOT-23Contextual Info: 管理計画 SOT-23 CONTROL PLAN (SOT-23) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
OT-23) SOT-23 | |
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Contextual Info: 管理計画 USP-8A01 CONTROL PLAN (USP-8A01) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
USP-8A01) | |
MSOP-8AContextual Info: 管理計画 MSOP-8A CONTROL PLAN (MSOP-8A) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
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SOT-26Contextual Info: 管理計画 SOT-26 CONTROL PLAN (SOT-26) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
OT-26) SOT-26 | |
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Contextual Info: 管理計画 MSOP-8B CONTROL PLAN (MSOP-8B) ﾄﾚｯｸｽ・ｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
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SOD-723Contextual Info: 管理計画 SOD-723 CONTROL PLAN (SOD-723) ﾄﾚｯｸｽｾﾐｺﾝﾀﾞｸﾀｰ株式会社 代表例 TOREX SEMICONDUCTOR LTD. 工程記号 No. 工程名 Flow Process 1 ｳｴﾊ受入 ◇ Wafer incoming 2 酸化 ○ Oxide 3 酸化膜ﾁｪｯｸ |
Original |
OD-723) SOD-723 | |